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晶圓測試與測試介面工程
COMPONENT & MATERIAL
晶圓測試與測試介面工程
在封裝前量測晶片電性,搭配探針卡、測試板與工程服務。這一頁是一般半導體測試能力,不直接推定為矽光子耦光探針台。
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晶圓測試、探針卡、測試板與工程服務。